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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Byoungho Kim (Hanyang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.16 No.5
발행연도
2016.10
수록면
713 - 718 (6page)

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Predicting precise specifications of differential mixed-signal circuits is a difficult problem, because analytically derived correlation between process variations and conventional specifications exhibits the limited prediction accuracy due to the phase unbalance, for most self-tests. This paper proposes an efficient prediction technique to provide accurate specifications of differential mixed-signal circuits in a system-on-chip (SoC) based on a nonlinear statistical nonlinear regression technique. A spectrally pure sinusoidal signal is applied to a differential DUT, and its output is fed into another differential DUT through a weighting circuitry in the loopback configuration. The weighting circuitry, which is employed from the previous work, efficiently produces different weights on the harmonics of the loopback responses, i.e., the signatures. The correlation models, which map the signatures to the conventional specifications, are built based on the statistical nonlinear regression technique, in order to predict accurate nonlinearities of individual DUTs. In production testing, once the efficient signatures are measured, and plugged into the obtained correlation models, the harmonic coefficients of DUTs are readily identified. This work provides a practical test solution to overcome the serious test issue of differential mixed-signal circuits; the low accuracy of analytically derived model is much lower by the errors from the unbalance. Hardware measurement results showed less than 1.0 dB of the prediction error, validating that this approach can be used as production test.
#ADC #analog-to-digital converter #DAC #digital-to-analog converter #mixed-signal testing

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. LIMITED ACCURACY ON DIFFERENTIAL CIRCUIT TESTING
III. PROPOSED SELF-TEST TECHNIQUE
IV. HARDWARE EXPERIMENT RESULTS
V. CONCLUSIONS AND FUTURE WORK
REFERENCES

참고문헌 (7)

참고문헌 신청
[학술대회논문] - R. Puhakka / 2006 / Cost of Test-Big Driver in ATE / EEE International Test Conference : 1 ~ 1 google schola [학술지(정기간행물)] - J. H. Friedman / 1991 / Multivariate adaptive regression splines / The Annals of Statistics 19 (1) : 1 ~ 141 google schola [학술지(정기간행물)] - B. Kim / 2012 / Imbalance-based selftest for high-speed mixed-signal embedded systems / IEEE Trans. Circuits Syst. II, Exp. Briefs : 785 ~ 789 google schola [학술지(정기간행물)] - R. Reeder / 2005 / Transformer-coupled front-end for wideband A/D converters / Analog Dialogue 39 (3) : 3 ~ 6 google schola [단행본] - B. Razavi / 2001 / Design of Analog CMOS Integrated Circuits / McGraw-Hill google schola

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