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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 1996.11
- 수록면
- 1,598 - 1,601 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (6)
1997
고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석
박종욱
,
박경택
,
조상욱
외 1명
한국정보과학회 학술발표논문집
1997.10
학술대회자료
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현 ( A Design of Improved Random Built-In Self Test for Resting of High Density Memory Chips )
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.07
학술대회자료
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.06
학술대회자료
1996
PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계
박종욱
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1996.11
학술대회자료
PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계 ( A Design of New Pseudo Random PAttern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
박종욱
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1996.11
학술대회자료
개선된 랜덤패턴 생성기를 이용한 고밀도 메모리 Built-In Self Test 회로의 설계 ( A New Pseudo Random Pattern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
박종욱
,
박성주
CAD 및 VLSI 설계연구회지
1996.01
학술저널
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1996 .11
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개선된 랜덤패턴 생성기를 이용한 고밀도 메모리 Built-In Self Test 회로의 설계 ( A New Pseudo Random Pattern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
CAD 및 VLSI 설계연구회지
1996 .01
-
다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석 ( An Analysis of Random Built - In Self Test Techniques with Various Addressing Techniques For High Density Memory Chips )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
-
다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
-
고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석
한국정보과학회 학술발표논문집
1997 .10
-
혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기
전기학회논문지
1998 .07
-
반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )
전자공학회지
1992 .05
-
내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )
전자공학회논문지-SD
2001 .10
-
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현
대한전자공학회 학술대회
1997 .06
-
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현 ( A Design of Improved Random Built-In Self Test for Resting of High Density Memory Chips )
대한전자공학회 학술대회
1997 .07
-
내장형 메모리 테스트 알고리듬을 위한 범용 BIST 생성기
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
-
P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법
한국통신학회 학술대회논문집
2015 .01
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연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )
한국통신학회 학술대회논문집
1996 .01
-
플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트
전자공학회논문지-SD
2007 .06
-
Built-In Self Test를 위한 패턴 생성기와 응답 분석기의 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design of Pattern Generator and Signature Analyzer for Built-In Self Test )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
-
고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계
전자공학회논문지-SD
2005 .02
-
가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계
정보과학회논문지(A)
1997 .06
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메모리 테스트를 위한 BIST 기술
전자공학회지
1995 .12
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고장위치 검출 가능한 BIST용 패턴발생 회로의 설계 ( Design of Fault Position Detectable Pattern Generator for Built-In Self Test )
한국통신학회논문지
1993 .10
-
IEC61850 기반의 Gateway 개발을 위한 이슈에 관한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
2009 .07
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