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Electrical Characteristics of Thin Oxide Grown by High-Pressure Oxidation with Rapid Thermal Nitridation
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
고압산화법으로 성장된 얇은 산화막의 열질화 효과 ( Thermal Nitridation Effects of Ultrathin Oxides Grown By High Pressure Oxidation )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
고압산화법으로 성장된 얇은 산화막의 열질화 효과
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
급속열질화에 의한 고압산화법으로 성장된 얇은 산화막의 특성개선 ( Improvement of Thin Oxide Grown by High Pressure Oxidation using Rapid Thermal Nitridation )
전자공학회논문지-D
1997 .08
Thermal Nitride for Future ULSI Applications
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
ULSI Cell Technology
전자공학회지
1992 .05
Hot Carrier Effect of n-MOSFET with Ultrathin Oxides Grown by High Pressure Oxidation and Nitrided in N2O
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1997 .01
Electrical and Physical Properties of Ultrathin Reoxidized Nitrided Oxide Grown by Rapid Thermal Processing
KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING
1990 .01
Thermal property of ultrathin polymer films
한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집
1999 .04
Future ULSI Device Using SOI Technology
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
연속적 급속열처리법에 의한 재산화질화산화막의 특성 ( Characteristics of Reoxidized-Nitrided-Oxide Films Prepared by Sequential Rapid Thermal Oxidation and Nitridation )
전자공학회논문지
1990 .05
Advanced Sputtering Target for V & ULSI Application
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
SPUTTERING TECHNOLOGY FOR ULSI REQUIREMENTS
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1989 .01
Characterization of TiN/TiSi2 contact barrier layer formed by rapid thermal anneal for ULSI devices
KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING
1994 .01
Technology and Reliability Aspects of Ultra Thin Dielectrics for ULSI Applications
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
ULSI용 Stacked Chip Package에 관한 연구
한국재료학회 학술발표대회
1999 .01
ROLE OF ULTRATHIN ALUMINUM OXIDE AS A PASSIVATING TUNNEL OXIDE LAYER
AFORE
2018 .08
Denudation 열처리가 ULSI device의 전기적 특성에 미치는 영향의 평가
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
Denudation 열처리가 ULSI device의 전기적 특성에 미치는 영향의 평가 ( Effects of denudation anneals on the electrical properties of ULSI devices )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
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