Design of BIST Circuit for Content Addressable Memory

Kyeong Kap Paek ,  Joo Sock Lee ,  Nho Kyung Pa 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1997 .01

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계 ( A Design of Fault and Defectable BIST Circuit for Memories )

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

초 고집적 메모리의 효율적인 테스트를 위한 BIST 회로와 BICS 의 설계 ( A Design of BIST Circuit and BISC for Efficient ULSI Memory Testing )

김대익 ,  전병실

전자공학회논문지-C

1997 .08

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

메모리에서 PSF 검출을 위한 알고리듬 및 BIST 설계 ( PSF detection algorithm and BIST design in memory )

이중호 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열 ,  노석호

전자공학회논문지-TC

2005 .06

Embedded RAM 테스트를 위한 BIST 회로 설계

김지현 ,  성경호 ,  장종권

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

회로분할과 테스트 입력 벡터 제어를 이용한 저전력 Scan-based BIST 설계

신택균 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

A New BIST Architecture for Word Oriented Memory

Il-Woong Kim ,  Gunbae Kim ,  Ilgweon Kang 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

연상메모리 설계 및 제작에 관한 연구 ( A Study on the Design and Fabrication of Content Addressable Memory )

박상봉 ,  박노경 ,  차균현

한국통신학회논문지

1991 .02

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories )

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07