Built-In 테스트 방식을 이용한 RAM ( Random Access Memory ) 의 고장 검출 ( Fault Detection of Semiconductor Random Access Memories Using Built-In Testing Techniques )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .05

반도체 RAM의 고장 검출을 위한 테스트 절차 ( A New Test Procedure for Functional Faults in Semiconductor Random Access Memories )

김윤홍 ,  한석붕 ,  정준모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

고장검출이 용이한 Built-in Test 방식의 설계 ( Testable Design on the Built In Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .05

반도체 메모리를 이용한 보조기억장치에 관한 연구

김석일 ,  박민용

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

A New Test Algorithm for High - Density Memories

Dong-Chual Kang ,  Sang-Bock Cho

대한전자공학회 학술대회

2000 .11

March Test 기법의 한계 및 알고리듬 ( 반도체 메모리의 커플링 고장을 중심으로 ) ( The Limit of the March Test Method and Algorithms ( On Detecting Coupling Faults of Semiconductor Memories )

여정모 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1992 .08

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

내장된 메모리를 위한 메모리 테스트 알고리듬의 설계 및 구현

박강민 ,  최인여 ,  양선웅 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

이화준 ,  소병세

전자공학회지

1995 .12

Testing High Density 3-D Memories

Kwang-Jin Lee ,  Cheol Kim ,  Suki Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

반도체 메모리 테스트에 적합한 코드의 개발에 관한 연구 ( A study on development of code applicable to semiconductor memory testing )

전춘우 ,  이중호 ,  여정모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

반도체 메모리 테스트에 적합한 코드의 개발에 관한 연구

전춘우 ,  이중호 ,  여정모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for Testing Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Content Addressable Memories )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

Built-In Self Test 방식에 의한 순서회로의 설계 ( Design of Sequential Circuit Using Built-In Self Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .09

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김상국 ,  박은화 ,  최태용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06