반도체 메모리 테스트에 적합한 코드의 개발에 관한 연구 ( A study on development of code applicable to semiconductor memory testing )

전춘우 ,  이중호 ,  여정모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

이화준 ,  소병세

전자공학회지

1995 .12

반도체 메모리소자의 이해와 활용

권기원

정보과학회지

2018 .06

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술

홍원기 ,  최정대 ,  심은성 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

반도체 메모리의 전망

유영갑

전자공학회지

2007 .07

A Case Study on the Improvement of Software Test Effectiveness through Static Testing

김효영 ,  한혁수

정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용

2007 .03

반도체 메모리의 테스트를 위한 MTA ( Memory TestAble ) 코드 ( MTA ( Memory TestAble ) Code for Testing in Semiconductor Memories )

이중호 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1994 .08

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

반도체 메모리의 선택 및 사용 방법

한국전자산업진흥회

전자진흥

1987 .01

반도체 메모리의 구성 및 기술동향

한국전자산업진흥회

전자진흥

1987 .01

반도체 뉴메모리의 동향 및 전망

백승재 ,  이붕주 ,  박구범

전기의세계

2011 .01

반도체 메모리 Cell의 Fail 유형 및 불량원인 분석

김도우

대한전기학회 학술대회 논문집

2017 .10

자동차 반도체의 신뢰성 테스트

이성수 ,  김창균

전자공학회지

2019 .01

C언어 기반 프로그램의 동적 메모리 접근 오류 테스트 자동화 도구 설계

조대완 ,  오승욱 ,  김현수

정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용

2007 .08

반도체 메모리의 제한된 PSF 검출을 위한 병렬 테스트 알고리즘 ( Parallel Test Algorithm to Detect Restricted PSF for Semiconductor Memory )

이중호 ,  김성무 ,  조상복

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

한국 메모리 반도체산업의 현황과 전망

임형규

전자공학회지

1999 .12