Built-In 테스트 방식을 이용한 RAM ( Random Access Memory ) 의 고장 검출 ( Fault Detection of Semiconductor Random Access Memories Using Built-In Testing Techniques )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .05

반도체 RAM의 결함고장을 검출하는 알고리듬 ( Algorithm for Detecting Coupling Faults in Semiconductor RAM`s )

여정모 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

Test Patterns for Random Access Memories

Jae Hong Lee ,  Wayne E. Sta ,  k

TENCON 87 - Computers and Communications Technology Toward 2000

1997 .01

Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 반도체 메모리의 기능 고장 검출 ( Fuctional Testing of Semiconductor Memories using Built-In Self-Testing method )

박경훈 ,  김유인 ,  박상욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

RAM의 커플링 고장 검출을 위한 알고리즘 ( Algorithms for the Detection of Coupling Faults in RAMs )

여정모 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

THE DETECTION OF COUPLING FAULTS IN SEMICONDUCTOR RAM`S

Jeong Mo Yeo ,  Won Chae Jung ,  Sang Bok Cho

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1992 .01

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김상국 ,  박은화 ,  최태용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

March Test 기법의 한계 및 알고리듬 ( 반도체 메모리의 커플링 고장을 중심으로 ) ( The Limit of the March Test Method and Algorithms ( On Detecting Coupling Faults of Semiconductor Memories )

여정모 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1992 .08

RAM의 커플링 고장을 검출하는 March Test의 한계 및 알고리즘 ( The limit of march test and algorithms for the detection of coupling faults in RAMs )

여정모 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1991 .01

AN EFFICIENT TEST ALGORITHM FOR FUNCTIONAL FAULTS IN RANDOM ACCESS MEMORIES

Yun Hong Kim ,  In Chul Lim

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1992 .01

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

전동차 RAMS 신뢰도 향상을 위한 고장 데이터 품질 확보 및 자동 고장 등록 시스템 구축에 관한 연구

최용석 ,  박종문 ,  이강호

한국철도학회 학술발표대회논문집

2018 .05

반도체 메모리를 이용한 보조기억장치에 관한 연구

김석일 ,  박민용

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

Testing High Density 3-D Memories

Kwang-Jin Lee ,  Cheol Kim ,  Suki Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

RAMS 활동절차에 따른 세부 실행방안 수립에 관한 연구

백주현 ,  김하원 ,  이종석 외 1명

한국철도학회 학술발표대회논문집

2018 .10

반도체 ROM의 Functional 테스트에 관한 연구 ( A Study on the Functional Test of Semiconductor ROM )

여정모 ,  조진규 ,  김성무 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

A New Test Algorithm for High - Density Memories

Dong-Chual Kang ,  Sang-Bock Cho

대한전자공학회 학술대회

2000 .11