고집적 메모리의 테스트 기술

안영창

전자공학회지

1998 .11

Testing High Density 3-D Memories

Kwang-Jin Lee ,  Cheol Kim ,  Suki Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

고집적 메모리를 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬

朴漢源 ,  姜成昊

전기학회논문지 D

2001 .04

내장된 메모리를 위한 향상된 March 테스트 알고리듬의 설계 및 구현 ( Design and Implementation of Improved March Test Algorithm for Embedded Memories )

박강민 ,  장훈 ,  양승민

한국통신학회논문지

1997 .07

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

내장된 이중-포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구 ( A Study on Efficient Test Methodologies on Dual-port Embedded Memories )

한재천 ,  양선웅 ,  진명구 외 1명

전자공학회논문지-C

1999 .08

고집적 메모리에서 PSF의 테스트에 관한 연구 ( A Study on PSF's Testing in High Density Memory )

허영도 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

[ETRI] ETRI Journal

2008 .08

Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 반도체 메모리의 기능 고장 검출 ( Fuctional Testing of Semiconductor Memories using Built-In Self-Testing method )

박경훈 ,  김유인 ,  박상욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

Test Patterns for Random Access Memories

Jae Hong Lee ,  Wayne E. Sta ,  k

TENCON 87 - Computers and Communications Technology Toward 2000

1997 .01

An Efficient Built-In Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories

Dong -Chual Kang ,  Sung Min Pa ,  k 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2004 .12

An Optimal Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

병렬 테스트방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for High Density SRAMs Using Parallel Test Methodology )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

반도체 메모리를 이용한 보조기억장치에 관한 연구

김석일 ,  박민용

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬

김지혜 ,  김홍식 ,  김상욱 외 4명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

Testing of Memories with Tolerable Defects

Young Gap You

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1991 .01

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

이화준 ,  소병세

전자공학회지

1995 .12

Integration Process and Reliability for SrBi₂ Ta₂O₉-based Ferroelectric Memories

Beelyong Yang ,  Seaung-Suk Lee ,  Young Min Kang 외 12명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2001 .09

결함 검출이 용이한 1기가 비트 메모리

권오형 ,  김상우 ,  박재홍 외 3명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10