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이용수
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. RAM의 구조 와 고장모델
Ⅲ. 메모리 테스트 패턴 생성기
Ⅳ. 메모리 테스트 결과 신호분석기 설계
Ⅴ. 실험 및 결과
Ⅶ. 결론
참고문헌
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대한전자공학회 학술대회
1994 .11
Built-In 테스트 방식을 이용한 RAM ( Random Access Memory ) 의 고장 검출 ( Fault Detection of Semiconductor Random Access Memories Using Built-In Testing Techniques )
전자공학회논문지
1990 .05
RAM의 커플링 고장 검출을 위한 알고리즘 ( Algorithms for the Detection of Coupling Faults in RAMs )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 반도체 메모리의 기능 고장 검출 ( Fuctional Testing of Semiconductor Memories using Built-In Self-Testing method )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
RAM의 커플링 고장을 검출하는 March Test의 한계 및 알고리즘 ( The limit of march test and algorithms for the detection of coupling faults in RAMs )
한국통신학회 학술대회논문집
1991 .01
고장검출이 용이한 Built-in Test 방식의 설계 ( Testable Design on the Built In Test Method )
전자공학회논문지
1987 .05
반도체 RAM의 고장 검출을 위한 테스트 절차 ( A New Test Procedure for Functional Faults in Semiconductor Random Access Memories )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
A Built-In Testing for Dual-Port RAMs
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1993 .01
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전자공학회논문지-A
1993 .01
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대한전자공학회 학술대회
1996 .11
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단 ( Neighborhood Pattern Sensitive Fault Diagnosis Using Built - In Self Test )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )
전자공학회논문지-SD
2001 .02
전동차 RAMS 신뢰도 향상을 위한 고장 데이터 품질 확보 및 자동 고장 등록 시스템 구축에 관한 연구
한국철도학회 학술발표대회논문집
2018 .05
요약 비디오 영상과 PCA를 이용한 유사비디오 검출 기법
멀티미디어학회논문지
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전류 테스팅을 위한 객체 기반의 무해고장 검출 기법
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2002 .01
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2016 .04
구조생존성 평가를 위한 수압 램 건 시스템 개발
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1990 .01
THE DETECTION OF COUPLING FAULTS IN SEMICONDUCTOR RAM`S
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1992 .01
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