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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김경미 (건국대학교) 박민수 (서울대학교)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회 추계학술대회 논문집 2009년 대한산업공학회 추계학술대회 논문집
발행연도
2009.10
수록면
580 - 587 (8page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2010

반도체의 결점 크기 분포를 이용한 신뢰도 추정
김경미 한국경영공학회지 2010.01 학술저널

2009

반도체 결점의 성장 모형을 이용한 신뢰도 추정
김경미 ,  박민수 대한산업공학회 추계학술대회 논문집 2009.10 학술대회자료

초록· 키워드

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전통적으로 전자제품의 수율과 신뢰도는 독립적으로 다루어져 왔으나 최근 수율을 이용하여 신뢰도를 추정하면 신뢰도 개선 기법의 경제적 타당성에 관한 의사결정을 초기 생산단계에서 신속히 내릴 수 있다고 알려졌다. 때문에 수율과 신뢰도의 관계에 대한 연구를 활발히 진행하고 있는데 이를 위해서는 제조공정중에 발생하는 결점이 사용 환경과 시간에 따라 성장해 가는 과정을 반드시 고려하여야 한다. 기존의 연구들은 시간과 환경이 주어지면 t시점 이후의 결점의 크기는 초기결점의 크기에서 상수만큼 증가한다고 가정한다. 그러나, 최근의 실험 결과에 따르면 결점이 시간에 따라 지수적으로 성장하며 이러한 성장은 시간과 환경이 고정되더라도 확률적으로 일어나게 된다. 따라서 본 연구에서는 초기 결점의 크기가 주어져 있을 때 t시점 이후의 결점의 크기를 모형화하기 위해 대수정규분포를 제안하고 수율을 이용하여 신뢰도를 추정하는 방법을 제안하고자 한다.

목차

Abstract
1. 서론
2. 관련 문헌고찰
3. 결점의 성장모형
4. 수율 및 신뢰도 추정
참고문헌

참고문헌 (0)

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