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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2007년도 춘계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2007.5
수록면
229 - 234 (6page)

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The nature of the signal collected by an SEM(Scanning Electron Microscope) in order to form images are all dependent on the detector used to collect them, and the quality of an acquired images is strongly influenced by detector performance. Therefore, the development of detector with high performance is very important for improving on the resolution of SEM. This paper presents the manufacture of secondary electron detector and the optimal position of electron detector through numerical analysis in SEM.

목차

Abstract
1. 서론
2. 검출기의 제작
3. 검출기의 보완 및 검출실험
4. 신틸레이터의 제작 및 실험
5. SEM 챔버내 이차전자의 거동해석
6. 결론
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