주사전자현미경용 전자검출기의 설계 및 제작

전종업 ,  김지원

Journal of the Korean Society for Precision Engineering

2008 .04

SEM용 전자 검출기의 설계 및 제작

김지원 ,  부경석 ,  Ten Aleksey-Deson 외 4명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2006 .05

SEM용 전자검출기의 제작 및 성능평가

김지원 ,  전종업 ,  부경석

대한기계학회 춘추학술대회

2007 .05

주사전자현미경용 전자검출기

이상욱 ,  전종업 ,  한상훈

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2004 .04

A design of Atmospheric Scanning Electron Microscope

Seung-Jae Kim

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2016 .10

The Study on Design of Fine Focusing Lens in an Atmospheric Scanning Electron Microscope

Kyu Song ,  Ji-Hui Han ,  Dong-Young Jang 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2016 .10

SEM용 전자 검출기의 설계 및 제작

이상욱 ,  전종업 ,  박기태 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2005 .05

수치해석을 통한 SEM 챔버내의 이차전자 거동해석 및 이차전자 검출기의 최적 장착 위치 선정

부경석 ,  전종업

한국생산제조학회지

2008 .08

유한요소해석을 사용한 주사전자 현미경 대물렌즈의 특성평가

이재진 ,  박만진 ,  박근 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2008 .11

전자빔이용 형상 측정 및 해석기술

홍원표 ,  김승태 ,  강은구 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2008 .06

대기압 주사전자현미경을 위한 He과 Air에서의 전자빔 분석

한지희 ,  송규 ,  김승재 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2016 .11

SEM에서 수치해석을 통한 이차전자 거동해석 및 검출기의 최적위치 선정

김지원 ,  전종업 ,  부경석 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2006 .10

Experimental methods to reduce primary electron scattering from air molecules layer in Atmosphere Scanning Electron Microscopy

Seung-Jae Kim ,  Man-Jin Pa ,  k 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2014 .09

주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성을 위한 하드웨어 설계

임선종 ,  이찬홍

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2007 .10

전자빔 이미지 자동형상측정 정밀도 향상 연구

홍원표 ,  김승태 ,  강은구 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2009 .06

SEM의 전자빔을 이용한 회로패턴 개방/단락 검사

김준일 ,  신준균 ,  한상권 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

SEM의 전자빔을 이용한 회로패턴 개방 / 단락 검사 ( Open / Short Testing of Circuits with Electron Beams of a Scanning Electron Microscope )

김준일 ,  신준균 ,  한상권 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

플라즈마 진단을 위한 Scanning Electron Microscope Image의 신경망 인식 모델

고우람 ,  김병환

정보 및 제어 논문집

2006 .04

전계방출을 이용한 전자현미경의 설계 및 제작

장동영 ,  김동환 ,  박근 외 5명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2006 .05