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이용수
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험장치 및 실험방법
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅴ. 결론
감사의 글
참고문헌
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얇은 Si 산화막을 지닌 MOS 구조의 전기적 특성
대한전기학회 학술대회 논문집
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대한전자공학회 학술대회
1993 .11
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1993 .11
실리콘 산화막의 전압 전류 특성
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2016 .06
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전자공학회논문지-A
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전자공학회논문지-A
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저압급속열산화법과 플라즈마확산산화법에 의한 실리콘 산화박막의 제조
화학공학
2008 .01
PECVD와 NO 어닐링 공정을 이용하여 제작한 N-based 4H-SiC MOS Capacitor의 SiC/SiO2 계면 특성
전기전자학회논문지
2014 .12
구리 금속선의 산화 방지를 위한 알루미늄 박막의 산화 방지 특성 ( Characteristics of the aluminum thin films for the prevention of copper oxidation )
전자공학회논문지-A
1994 .10
디지털 합금방법으로 성장한 AlxGa₁-xA층의 균일한 산화
한국통신학회 기타 간행물
2004 .11
등가산화막두께 스케일링을 위한 다성분 산화막에 관한 연구
한국표면공학회 학술발표회 초록집
2015 .11
산화몰리브덴 박막의 구조 및 전기적 특성 고찰
대한전기학회 학술대회 논문집
2013 .07
실리콘 산화막의 열적질화와 그 MOS특성에 미치는 영향
대한전자공학회 학술대회
1983 .01
저온 산화공정에 의해 낮은 D를 갖는 실리콘 산화막의 제조
공업화학
1998 .01
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