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저널정보
한국정보기술학회 Proceedings of KIIT Conference 2005년도 하계종합학술발표논문집
발행연도
2005.7
수록면
12 - 16 (5page)

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급속 건식 열산화를 이용하여 850~1050 ℃의 온도범위로 초박막 SiO2를 p-Si(100) 위에 성장시켰다. 초박막 산화막의 유전상수는 게이트 전극의 면적과 측정된 커패시턴스로 산출하였다. 초박막 산화막 두께는 ellipsometer와 10 ㎑ C-V특성에서 Maserjian이 제안하는 방법에 따라 평가하였으며 MOS 커패시터에서 측정된 산화막 두께는 33.6Å이었다. 산화막에 대한 전기적 특성을 평가하기 위해 정전용량-전압, 전류-전압 특성을 이용하였으며, C-V 특성에서 산출된 초박막 산화막 두께가 111.6Å인 MOS 커패시터 midgap 부근에서의 최소 계면 준위 밀도는 6~10×1010 /㎝2eV 였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험장치 및 실험방법
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅴ. 결론
감사의 글
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