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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제9호
발행연도
2006.9
수록면
38 - 43 (6page)

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CMOS image sensor는 집적회로 구현이 가능하여 사이즈를 줄일 수 있고 저전력으로 구현이 가능하며 효율적인 영상처리를 할 수 있다는 장점을 갖고 있다. 그러나 불량화소의 발생은 곧 화질의 저하로 연결되기 때문에 불량화소를 검출하는 방법에 대한 연구가 필요하다. 본 논문에서는 CMOS image sensor에 사용되는 효율적인 불량화소 검출 알고리듬과 그 하드웨어를 제안하였다. 불량화소를 검출하기 위하여 본 논문에서 제안한 방법은 Scan, Trace, Detection의 단계를 거친다. 시뮬레이션 결과 특정 조건에서는 99.99%의 불량화소 걸출 성공률을 나타냈다. 제안된 알고리듬은 Verilog HDL로 구현 되었으며, 0.25 CMOS standard cell library에서 3.2k개의 게이트 수를 갖는다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 불량화소 검출 알고리듬
Ⅲ. 하드웨어 구현
Ⅳ. 결론
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