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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
송진근 (동아대학교) 임정욱 (동아대학교) 곽부동 (삼성전기) 강봉순 (동아대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2007년도 SOC 학술대회
발행연도
2007.5
수록면
365 - 368 (4page)

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본 논문은 영상 주파수 특성을 고려한 불량 화소(Dead Pixel) 검출 및 보정 시스템에 대해 제안하고 있다. 제안된 알고리즘은 불량화소를 2가지 종류로 분류하여, 불량 화소가 존재하는 저주파 및 고주파 영역에 대해 다양한 보정법을 제안한다. 불량 화소는 핫 픽셀(Hot pixel)과 콜드 픽셀(Cold pixel)로 분류한다. 제안된 알고리즘은 l차원 라인 검출 법과 2차원 5x5 창 검출법을 순차적으로 사용한다. 1차원 선형 검출 알고리즘은 수평 저주파 방향의 불량 화소를 검출 한다. 라인 메모리를 사용한 2차원 5x5 창 검출 알고리즘은 검출 대상 픽셀이 존재하는 영역을 저주파 및 고주파 영역으로 분류한다. 그리고 수직, 수평, 대각 방향성에 따른 구분을 통해, 불량 화소를 주변 픽셀들과 유사성을 고려하여 보정한다. 제안된 알고리즘은 99%의 높은 검출율을 보여 주고 있다. 그리고 Verilog-HDL를 사용하여 설계하고 Synopsys와 TSMC 0.25um library로 합성하여, 총 Gate Count는 30k로 설계되어 집적도가 높은 모바일 장치에 적합하다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 시뮬레이션 결과
Ⅳ. 하드웨어 아키텍처 설계
Ⅴ. 결론
참고문헌

참고문헌 (0)

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