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TFT-LCD 영상에서 평균과 표준편차를 이용한 STD 결함 검출 방법은 실제 많은 검사 시스템에 활용되고 있다. STD방법은 문턱 값에 따라 검출 결과가 매우 의존적인 문제가 있다. 본 논문에서는 신뢰도 높은 결함 검출을 위해 영상에 따른 적응적 문턱 값을 사용한 STD 방법을 제안한다. 제안 방법에서는 문턱 값을 영상의 휘도 분포와 정규 분포의 유사도를 나타내는 비대칭도(Skewness)를 이용하여 적응적으로 결정한다. 실험을 통해 적응적 문턱 값을 사용한 STD 방법은 다양한 결함을 포함한 영상에 대해 일관성 있는 검출 결과를 나타내어 제안한 방법의 타당성을 확인할 수 있었다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. STD기반 결함 검출
Ⅲ. 제안한 비대칭도를 이용한 STD 결함 검출
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (13)
참고문헌 신청
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C. B. Moon, Y. H. Ahn, H. Y. Lee, B. M. Kim, and D. W. Oh, “Implementation of Automatic Detection System for CCFL’s Defects based on Combined Lighting,Journal of the Korea Industrial Systems Research, Vol. 15, No. 2, pp. 69-80, 2010.
Y. C. Cho, B. J. Choi, and J. O. Yoon, “A Study on the Development of Backlight Surface Defect Inspection System using Computer Vision, Journal of the Korea Industrial Systems Research, Vol. 12, No. 3, pp. 116-123, 2007.
S. W. Sohn, G. T. Ryu and H. D. Bae, “An Image Processing Technique for Polarizing Film Defects Detection," Journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 45, no. IE-2, pp. 20-27, 2008.
J. H. Ko, “LCD Defect Detection using Neural - network based on BEP,Journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 48, no. IE-2, pp. 26-31, 2011.
C. B. Moon, Y. H. Ahn, H. Y. Lee, B. M. Kim, and D. W. Oh, “Implementation of Automatic Detection System for CCFL’s Defects based on Combined Lighting,Journal of the Korea Industrial Systems Research, Vol. 15, No. 2, pp. 69-80, 2010.
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S. W. Sohn, G. T. Ryu and H. D. Bae, “An Image Processing Technique for Polarizing Film Defects Detection," Journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 45, no. IE-2, pp. 20-27, 2008.
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