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Thermal fatigue of solder joints is critical to electronic package performance and service life. The electronic package are composed of different materials, thermal stresses generate at near the interface, such as solder joints due to the differences of thermal expansion coefficients. Results of thermal stress-strain occur thermal fatigue fracture at the interface of different materials.
The represent study established finite element analysis to determine the stress and strain history in the solder, due to thermal cycling. The computed stress and strain histories are utilized to construct hysteresis plots at each location in the solder joint. The hysteresis plots are then partitioned into elastic strain energy, plastic work and creep work dissipation. The fatigue life of the solder joint is then estimated through an energy partitioning analysis.

목차

Abstract
1. 서론
2. 이론
3. 유한 요소 해석
4. 결과 및 고찰
5. 결론
References

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