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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.7
- 수록면
- 37 - 44 (8page)
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본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Definitions and Fault Models
Ⅲ. Analysis of Test Patterns for Crosstalk faults
Ⅳ. Efficient 4n+1 Algorithm for Realistic Crosstalk Faults
Ⅴ. BIST Implementation of 4n+1 Algorithm
Ⅵ. Conclusions
References
Authors
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - A. Hassan / pp.126-137.1988. / Testing and Diagnosis of Interconnects using Boundary Scan Architecture
[학술지(정기간행물)] - W. T. Cheng / Sept.1992. / Optimal Diagnostic Methods for Wiring Interconnects IEEE Transactions on Computer-Aided Design 11 : 1161 ~ 1166
[학술지(정기간행물)] - N. Jarwala / aug.1989. / A new framework for analyzing test generation and diagnosis algorithms for wiring interconnects proceedings : 63 ~ 70
[학술지(정기간행물)] - Yongjoon Kim / May2004. / A new maximal diagnosis algorithm for interconnect 12 : 532 ~ 537
[학술지(정기간행물)] - Yi Zhao / June2003. / Fault-coverage analysis techniques of interconnects crosstalk in chip Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 22 : 770 ~ 782
[학술지(정기간행물)] - W. T. Cheng / Sept.1992. / Optimal Diagnostic Methods for Wiring Interconnects IEEE Transactions on Computer-Aided Design 11 : 1161 ~ 1166
[학술지(정기간행물)] - N. Jarwala / aug.1989. / A new framework for analyzing test generation and diagnosis algorithms for wiring interconnects proceedings : 63 ~ 70
[학술지(정기간행물)] - Yongjoon Kim / May2004. / A new maximal diagnosis algorithm for interconnect 12 : 532 ~ 537
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