저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계

이현빈 ,  김진규 ,  이준섭 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2007 .05

저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어

이현빈 ,  김진규 ,  정태진 외 1명

전자공학회논문지-SD

2007 .11

천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 셀 설계

김기태 ,  한주희 ,  황두찬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2006 .11

IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-온-칩 코아 테스트

이현빈 ,  한주희 ,  김병진 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

AMBA 기반 임베디드 코아 테스트를 위한 IEEE 1500 레퍼 설계

이현빈 ,  정태진 ,  한주희 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2007 .05

시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조

송동섭 ,  배상민 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .05

SOC 테스트를 위한 효율적인 코어 테스트 Wrapper 설계 기법

김문준 ,  장훈

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2004 .04

IEEE 1149.7 표준 테스트 인터페이스를 사용한 핀 수 절감 테스트 기술

임명훈 ,  김두영 ,  문창민 외 1명

전자공학회논문지

2013 .09

Delay Fault Test for Interconnection on Boards and SoCs

이현빈 ,  김두영 ,  한주희 외 1명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2007 .02

다양한 코어의 병렬 테스트를 지원하는 효과적인 SoC 테스트 구조

김현식 ,  김용준 ,  박현태 외 1명

전자공학회논문지-SD

2006 .10

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

IEEE 1149.1을 이용한 내장된 자체 테스트 기법의 구현 ( Implementation of Built-In Self Test Using IEEE 1149.1 )

박재흥 ,  장훈 ,  송오영

한국통신학회논문지

2000 .12

IEEE 1149.1을 기반으로 하는 테스트 시스템을 위한 테스트 버스 콘트롤러의 설계 및 구현 ( Design and Implementation of A Test Bus Controller for IEEE 1149.1 Based Test System )

조용태 ,  정득수 ,  송오영

한국통신학회논문지

2000 .11

IEEE 802.20

최형진 ,  손인수 ,  신준호

TTA 저널

2003 .01

IEEE 802.16 및 802.20

손인수 ,  윤철식 ,  최형진

TTA 저널

2004 .01

IEEE 802.16 30차-31차

이성춘 ,  박평수 ,  최형진

TTA 저널

2004 .01

IEEE 802.11/15

김동호

TTA 저널

2005 .01

SOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략

강길영 ,  김근배 ,  임정빈 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .09

멀티코어 SoC의 테스트 시간 감축을 위한 테스트 Wrapper 설계

강우진 ,  황선영

한국통신학회논문지

2014 .01