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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1988년도 가을 학술발표논문집 제15권 제2호
발행연도
1988.10
수록면
457 - 460 (4page)

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본 논문에서는 기존의 경로 활성화 방법을 개선하고 이를 이용하여 조합 논리 회로의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출할 수 있는 고장 시뮬레이션 방법을 제안한다. 기존의 조합 회로 고장 시뮬레이션 방법은 하나의 테스트 패턴에 대해서 일어날 수 있는 모든 고장을 인가하여 주 출력(Primary Output)까지 전파시켜 시뮬레이션 한다. 그러나 주 출력까지 전달되지 않는 고장에 대해서도 불필요한 시뮬레이션을 해야 하며 이로 인해서 시뮬레이션 시간과 메모리의 낭비를 가져오게 된다.
따라서, 본 논문에서는 회로에 인가하는 하나의 테스트 패턴에 대해 그 테스트 패턴이 검출할 수 있는 고장만을 시뮬레이션 하는 고장 시뮬레이션 방법을 제안하고 또한, fanout이 일어나는 신호선부터 고장 시뮬레이션을 수행함으로써 경로 활성화 방법이 갖고 있는 fanout 신호선의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출하게 함으로써 시뮬레이션의 속도를 개선시킨다.

목차

요약

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 경로 활성화 방법을 이용한 고장 시뮬레이션

Ⅲ. 회로 및 파형기술

Ⅳ. 고장 시뮬레이션 알고리즘

Ⅴ. 고장 시뮬레이션의 예

Ⅵ. 결론

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