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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제41권 제8호
발행연도
2004.8
수록면
697 - 704 (8page)

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본 논문에서는 IEEE 1149 1 표준인 JTAG 기반 테스트 성능향상을 위한 preceding Instruction decoding module(PIDM)을 제안하였다. PIDM은 test access port(TAP) 명령어 디코딩과정을 TAP 제어회로(TAP-controller) 이전에 수행하여 클럭최수를 최소화하였으며 테스트 타겟 안에서 test mode select(TMS) 같은 신호를 생성할 수 있게끔 설계되었다. CORDIC 프로세서의 테스트 시뮬레이션 결과 PIDM은 non-PIDM에 비해 15% 정도의 성능향상을 나타내었으며 TAP 제어회로의 게이트 수는 기존에 비해 48% 이상 감소하였다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. JTAG 기반 테스트

3. PIDM 설계

4. 시뮬레이션 결과 및 성능분석

5. 결론

참고문헌

저자소개

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[학술지(정기간행물)] - K. P. Parker / 2003. / The Boundary Scan Handbook google schola [학술지(정기간행물)] - S. Furber / 2000. / ARM System-on-Chip Architecture2nd Ed google schola [학술지(정기간행물)] - I. Huang / aug.2002. / A RetargetableEmbedded In Circuit Emulation Module forMicroprocessors 19 : 28 ~ 38 google schola [학술지(정기간행물)] - C. MacNamee / Dec.2000 / Emerging On-ChipDebugging Techniques for Real-Time EmbeddedSystems 11 (6) : 295 ~ 303 google schola [학술지(정기간행물)] - IEEE / 2001. / Test Port and Boundary- Scan Architecture google schola

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