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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제40권 제1호
발행연도
2003.1
수록면
61 - 71 (11page)

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본 논문에서 제안하는 GNS 시퀀스는 SoC 연결 고장 테스트를 수행할 때 aliasing 고장 증후와 confounding 고장 증후를 고장 증후를 발생시키지 않는 시퀀스로 연결 고장 위치의 분석을 효과적으로 수행할 수 있다. GNS 시퀀스는 과거 보드 수준의 연결 테스트를 수행하기 위한 IEEE 1149.1 std. 와 유사한 구조로 SoC 의 연결 테스트를 수행하게 되어있는 IEEE P1500 에 적용하여 SoC 내부의 IP 상호간에 존재하는 연결 고장을 검출하고 그 위치를 분석하는데, 이때 입력되는 테스트 시퀀스의 길이가 기존 연구들에 비해 최소의 값을 가짐으로써 연결 테스트 수행 시간을 단축할 수 있는 효과적인 연결 테스트 알고리듬이다.

목차

Ⅰ. Introduction

Ⅱ. 용어 정의

Ⅲ. GNS 시퀀스

Ⅳ. 성능 평가

Ⅴ. 결론

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