Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects )

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

CHARACTERISTICS AND APPLICATION OF HOT WATER POWER GENERATION SYSTEM

Iwao Kawaguchi ,  Takehi ,  o Ito 외 2명

KSME/JSME THERMAL and FLUID Engineering Conference

1996 .10

Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 ( The Performance Degradation of CMOS Differential Amplifiers due to Hot Carrier Effects )

박현진 ,  유종근 ,  정운달 외 1명

전자공학회논문지-D

1997 .07

고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성

박병석 ,  나민기 ,  한인식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2008 .11

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )

홍성희 ,  정성익 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구

이성원 ,  신형순

전자공학회논문지-SD

2003 .09

Energy Carrier and the Potential for Automobile Use

Shinichi GOTO ,  Lim Ocktaeck

한국자동차공학회 Workshop

2015 .10

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1998 .08

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06