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저자정보
Mari Napari (University of Southampton) Spyros Stathopoulos (University of Southampton) Themis Prodromakis (University of Edinburgh) Firman Simanjuntak (University of Southampton)
저널정보
대한금속·재료학회 Electronic Materials Letters Electronic Materials Letters Vol.20 No.4
발행연도
2024.7
수록면
363 - 371 (9page)
DOI
https://doi.org/10.1007/s13391-023-00481-w

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Resistive switching memory devices with tantalum oxide ( TaOx ) and hafnium oxide ( HfOx ) mono- and bilayers were fabricatedusing atomic layer deposition. The bilayer devices with Ti and TiN electrodes show non-linear switching characteristics,and can operate without requiring an initial electroforming step. The insertion of the HfOx layer induces the switchingbehaviour on single layer TaOx that shows Zener diode-like characteristics, with conductivity depending on the top electrodemetal. The electronic conductivity mechanism study shows Schottky emission at low voltage regime followed by tunnelingat higher applied bias, both indicating interface-dominated conduction. The switching mechanism study is supported byX-ray photoelectron spectroscopy characterization of the films that show a formation of TaOxNy and TaNx species at theoxide-electrode interface. This interfacial layer serves as a high resistivity barrier layer enabling the homogeneous resistiveswitching behavior.

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