Spectroscopic Ellipsometry and Optical Dispersion Analysis of Nanocrystalline CdS Thin Films

박욱동

doi:https://doi.org/10.1007/s42341-018-0059-z

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자료유형: 학술저널

저자정보: 박욱동 (동양대학교)

저널정보: 한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제19권 제4호

발행연도: 2018.8

수록면: 261 - 266 (6page)

DOI: https://doi.org/10.1007/s42341-018-0059-z

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This study reports on spectroscopic ellipsometry (SE) and optical dispersion analysis of chemically deposited CdS thin fi lms. The CdS thin fi lms were prepared using chemical bath deposition and annealed in N 2 atmosphere at temperatures of 100,200, 300, and 500 °C for 60 min. The optical constants of nanocrystalline CdS thin fi lms were investigated with SE. Theellipsometric parameters of the CdS thin fi lms were measured with SE in the photon energy range from 1.24 to 6.48 eV. Toinvestigate the dispersion parameters, the dispersion of the refractive index of the thin fi lms was analyzed using the Wemple?DiDomenico single-oscillator model (W?D model) and the Sellmeier model. The optical dispersion parameters of theoscillator energy, the dispersion energy, the average oscillator strength, and the average oscillator wavelength of CdS thinfi lms were investigated. In addition, dispersion parameters of CdS thin fi lms were investigated as a function of the annealingtemperature. The dispersion parameters of CdS thin fi lms by the W?D model and Sellmeier model change with annealingtemperature, which causes the transformation of the crystal structure.

#CdS thin fi lms #Spectroscopic ellipsometry #Optical dispersion #Single-oscillator model #Sellmeier model

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Shahzada Qamar Hussain / 2016 / Plasma Textured Glass Surface Morphologies for Amorphous Silicon Thin Film Solar Cells-A review / Transactions on Electrical and Electronic Materials 17(2):98~103

Hyeongsik Park / 2016 / Present Status of Thin Film Solar Cells Using Textured Surfaces: A Brief Review / Transactions on Electrical and Electronic Materials 17(5):275~279

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H. Katagiri / 2005 / Thin Solid Films 480-481:426

K. Ramanathan / 2005 / Thin Solid Films 480-481:499

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