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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Hyung Tae Kim (Korea Institute of Industrial Technology) Duk Yeon Lee (Korea Institute of Industrial Technology) Dongwoon Choi (Korea Institute of Industrial Technology) Jaehyeon Kang (Korea Institute of Industrial Technology) Dong-Wook Lee (Korea Institute of Industrial Technology)
저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.6 No.2
발행연도
2022.4
수록면
161 - 170 (10page)

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Three-dimensional (3D) geometric models are introduced to correct vignetting, and a downhill simplex search is applied to determine the coefficients of a 3D model used in digital microscopy. Vignetting is nonuniform illuminance with a geometric regularity on a two-dimensional (2D) image plane, which allows the illuminance distribution to be estimated using 3D models. The 3D models are defined using generalized polynomials and arbitrary coefficients. Because the 3D models are nonlinear, their coefficients are determined using a simplex search. The cost function of the simplex search is defined to minimize the error between the 3D model and the reference image of a standard white board. The conventional and proposed methods for correcting the vignetting are used in experiments on four inspection systems based on machine vision and microscopy. The methods are investigated using various performance indices, including the coefficient of determination, the mean absolute error, and the uniformity after correction. The proposed method is intuitive and shows performance similar to the conventional approach, using a smaller number of coefficients.
#Machine vision #Mathematical model #Microscopy camera calibration #Simplex search #Vignetting correction

목차

Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. METHODS
Ⅲ. EXPERIMENTS
Ⅳ. RESULTS AND DISCUSSION
Ⅴ. CONCLUSION
REFERENCES

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