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학술대회자료
저자정보
이민웅 (한국원자력연구원) 이남호 (한국원자력연구원) 권희정 (한국원자력연구원) 황영관 (한국원자력연구원) 김종열 (한국원자력연구원) 송근영 (한국원자력연구원) 조성익 (전북대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2022년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2022.6
수록면
1,820 - 1,823 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (6)

2022

반도체 방사선 열화 직접 진단 회로의 내방사선 및 저전력 집적화 설계
이민웅 ,  이남호 ,  권희정 외 4명 대한전자공학회 학술대회 2022.06 학술대회자료

2020

누적방사선 환경용 로직기반 펄스방사선 탐지회로 구현 및 검증
이민웅 ,  이남호 ,  김종열 외 1명 대한전기학회 학술대회 논문집 2020.07 학술대회자료

2019

CMOS IC기반 Instrumentation Amplifier 설계 및 누적방사선 영향 분석
이민웅 ,  김종열 ,  이남호 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2019.06 학술대회자료

2018

원전용 IC를 위한 CMOS 디지털 논리회로의 내방사선 모델 설계 및 누적방사선 손상 분석
이민웅 ,  이남호 ,  김종열 외 1명 전기학회논문지 2018.06 학술저널
내방사선 I-게이트 구조 CMOS 집적회로 개발
이민웅 전자·정보공학부 2018.01 학위논문

2017

CMOS 논리소자를 이용한 고준위 펄스방사선 고속 검출회로
이민웅 ,  이남호 ,  정상훈 외 1명 대한전기학회 학술대회 논문집 2017.07 학술대회자료

초록· 키워드

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Space, nuclear power, and national defense are extreme environments that can be exposed to high-energy radiation. In such an environment, most control/measurement electronic systems for the normal operation and mission performance of artificial satellites, nuclear reactors, and defense weapon systems are composed of CMOS-based integrated circuits (ICs), and when exposed to the total ionizing dose (TID) effect, safety problems may occur due to malfunction and performance degradation of the system. In this paper, a radiation degradation diagnosis circuit that can diagnose and predict the state of an electronic circuit or module in a radiation environment is designed by directly measuring the radiation degradation characteristics and tolerant design of an electronic device (n-MOSFET) vulnerable to radiation.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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