내방사선 원전센서 공통 신호처리 모듈 설계

이남호; 황영관; 김종열; 이승민

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자료유형: 학술저널

저자정보: 이남호 (한국원자력연구원) 황영관 (한국원자력연구원) 김종열 (한국원자력연구원) 이승민 (충남대학교)

저널정보: 한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 한국정보통신학회논문지 제19권 제6호

발행연도: 2015.6

수록면: 1,405 - 1,410 (6page)

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본 연구에서는 정상 운전이나 사고 시 발생되는 고방사선 환경에서 다양한 센서에 공통적으로 사용할 수 있는 내 방사선 센서 신호처리 모듈을 설계하였다. 개발한 초기 모듈은 센서의 저항(R)과 정전용량(C) 값의 변화를 입력으로 받아 PWM 신호 변조방식으로 처리하도록 설계되었다. 이 모듈은 총 약 12 kGy 방사선 평가시험에서 Full-Scale 대비 ±10 % 오차범위를 가지고 있었다. 오차 발생의 주요 원인은 방사선 피폭량의 증가에 따른 공통회로 내 스위칭 소자의 열화와 이로 인한 펄스폭 변조회로의 듀티 비 증가로 분석되었다. 이 분석결과를 반영한 방사선 내성강화를 위해 방사선에 의한 특성변화를 상쇄하는 회로를 추가하여 재설계하였고, 20.7 kGy 범위의 TID 시험에서 Full-scale 대비 5% 이하 오차로 개선결과를 얻었다.

#내방사선 센서회로 #방사선 실험 #공통회로 #총이온화선량 #Radiation hardening Sensor circuit #Radiation test #Nuclear power plant #Total Ionization Dose

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[학술대회논문] - Holmes-Siedles / 1974 / Radiation-induced ionization effects in solids : a review of research problem / Proceeding of the IEEE 62 : 1196 ~ 1207

[단행본] - S.M, Sze / 1981 / Physics of Semiconductor Devices / Wiley

[단행본] - Messenger, A. / 1986 / The effects of radiation on electronic systems / Van Norstrand Reinhold Company

[단행본] - Ricketts / 1986 / Fundamentals of Nuclear Hardening of Electronic Equipment / Robert E. Krieger Publishing Company

[단행본] - Dressendorfer, M. / 1989 / Ionizing radiation effects in mos devices and circuits / John Wiley & Sons

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