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Palash Das (Indian Institute of Technology Kharagpur) Sanjay Kumar Jana (Indian Institute of Technology Kharagpur) Nripendra N. Halder (Indian Institute of Technology Kharagpur) S. Mallik (National Institute of Science and Technology) S. S. Mahato (National Institute of Science and Technology) A. K. Panda (National Institute of Science and Technology) Peter P. Chow (SVT Associates 7620 Executive Drive) Dhrubes Biswas (Indian Institute of Technology Kharagpur)
저널정보
대한금속·재료학회 Electronic Materials Letters Electronic Materials Letters Vol.14 No.6
발행연도
2018.1
수록면
784 - 792 (9page)

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In this letter, a standard deviation based optimization technique has been applied on High Resolution X-ray Diff raction symmetricand asymmetric scan results to accurately determine the Aluminum molar fraction and lattice relaxation of MolecularBeam Epitaxy grown compositionally graded Aluminum Gallium Nitride (AlGaN)/Aluminum Nitride/Gallium Nitride(GaN) heterostructures. Mathews–Blakeslee critical thickness model has been applied in an alternative way to determinethe partially relaxed AlGaN epilayer thicknesses. The coupling coeffi cient determination has been presented in a diff erentperspective involving sample tilt method by off set between the asymmetric planes of GaN and AlGaN. Sample tilt is furtherincreased to determine mosaic tilt ranging between 0.01° and 0.1°.

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