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학술저널
저자정보
Hwang, Jae-Dam (Department of Nano Science and Technology, University of Seoul) Lee, Kyoung-Min (Department of Nano Engineering, University of Seoul) Keum, Ki-Su (Department of Nano Science and Technology, University of Seoul) Lee, Youn-Jin (Department of Nano Science and Technology, University of Seoul) Hong, Wan-Shick (Department of Nano Science and Technology, University of Seoul)
저널정보
한국정보디스플레이학회 Journal of information display Journal of information display 제11권 제3호
발행연도
2010.1
수록면
109 - 112 (4page)

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The solid phase compositions and dielectric properties of silicon nitride ($SiN_x$) films prepared using the plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) technique at a low temperature ($200^{\circ}C$) were studied. Controlling the source gas mixing ratio, R = $[N_2]/[SiH_4]$, and the plasma power successfully produced both silicon-rich and nitrogen-rich compositions in the final films. The composition parameter, X, varied from 0.83 to 1.62. Depending on the film composition, the dielectric properties of the $SiN_x$ films also varied substantially. Silicon-rich silicon nitride (SRSN) films were obtained at a low plasma power and a low R. The photoluminescence (PL) spectra of these films revealed the existence of nano-sized silicon particles even in the absence of a post-annealing process. Nitrogen-rich silicon nitride (NRSN) films were obtained at a high plasma power and a high R. These films showed a fairly high dielectric constant ($\kappa$ = 7.1) and a suppressed hysteresis window in their capacitance-voltage (C-V) characteristics.

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