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박유라 (금오공과대학교 대학원) 노승훈 (금오공과대학교 기계시스템공학과) 김영조 (금오공과대학교 대학원) 길사근 (금오공과대학교 대학원) 김건형 (금오공과대학교 대학원) 신윤호 (금오공과대학교 대학원)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제15권 제1호
발행연도
2016.1
수록면
56 - 64 (9page)

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It is generally accepted that the surface quality of wafer edge is mostly damaged by the vibrations of the edge grinding machine. The surface quality of wafer edge is supposed to be the most dominant factor of the cracks, scratches, burrs and chips on the edge surfaces, which are the main defects of the wafers. In this study, the structure of a wafer edge grinder has been investigated through the frequency response experiment and the computer simulation to find ways to suppress the vibrations from the structure. The main reasons of the structural vibrations were analyzed. And further the design alterations were deduced from the results of the experiment and the simulation, and applied to the machine to check the effects of those alterations and to eventually improve the structural stability. The result shows that the machine can have much improved stability with relatively simple design changes.

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