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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
윤성희 (한양대학교 융합기계공학과) 장경영 (한양대학교 기계공학부) 신완순 (국방과학연구소 국방고등기술원 첨단기술연구센터)
저널정보
한국군사과학기술학회 한국군사과학기술학회지 한국군사과학기술학회지 제19권 제6호
발행연도
2016.1
수록면
690 - 697 (8page)

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EOIS(electro-optical imaging system) is the main target of the laser weapon. Specially, the image sensor will be vulnerable because EOIS focuses the incident laser beam onto the image sensor. Accordingly, the laser-induced damage of the image sensor needs to be identified for the counter-measure against the laser attack. In this study, the laser-induced damage of the CCD image sensor irradiated by the CW(continuous wave) NIR(near infrared) laser was experimentally investigated and mechanisms of those damage occurrences were analyzed. In the experiment, the near infrared CW fiber laser was used as a laser source. As the fluence, which is the product of the irradiance and the irradiation time, increased, the permanent damages such as discoloration and breakdown appeared sequentially. The discoloration occurred when the color filter was damaged and then the breakdown occurred when the photodiode and substrate were damaged. From the experimental results, LIDTs(laser-induced damage thresholds) of damages were roughly determined.
#레이저에 의한 손상 #연속발진 레이저 #CCD 영상센서

목차

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참고문헌 (8)

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Lei Tang / 2012 / Study on Damage Effect and Threshold of High Energy 1.06μm-Wavelength Long-Pulse Laser to Photo Detector / Electromagnetic Launch Technology(EML) 2012 16th International Symposium :1~5 google schola Joung R. Cook / 1997 / The Navy’s High Energy Laser Weapon System / Free-Electron Laser Challenges(SPIE Proceedings) 2988:264~271 google schola Zhou Jianmin / 2005 / Analysis of the Disturbance of Remote Aerial Detector Induced by Laser / High-Power Lasers and Applications III (SPIE Proceedings) 5627:278~285 google schola 최성호 / 2012 / CW 레이저 조사에 의한 실리콘 웨이퍼의 손상 평가 / 대한기계학회논문집 A 36(10):1241~1248 dbpia 김진겸 / 2015 / 고출력 CW 레이저에 의한 CMOS 영상 센서의 손상 분석 / 대한기계학회논문집 A 39(1):105~109 dbpia

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