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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김정화 (영남대학교) 김인수 (경운대학교) 배인호 (영남대학교)
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제19권 제5호
발행연도
2010.9
수록면
353 - 359 (7page)

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Metal-organic chemical vapour deposition (MOCVD) 법으로 성장된 In<SUB>0.49</SUB>Ga<SUB>0.51</SUB>P/GaAs 이종접합 구조의 특성을 표면 광전압(surface photovoltage; SPV) 분광법으로 조사하였다. SPV 측정은 입사광의 세기, 변조 주파수, 온도의 함수로 수행하였다. 상온에서 시료의 띠간격 에너지(band gap energy)는 GaAs와 In<SUB>0.49</SUB>Ga<SUB>0.51</SUB>P는 각각 1.400 및 1.893 eV이었다. 광세기를 증가시킴에 따라 SPV 크기는 증가하는 반면에, 변조 주파수를 증가시킴에 따라 SPV 크기는 감소하였다. 그리고 SPV 스펙트럼의 온도 의존성으로부터 GaAs와 In<SUB>0.49</SUB>Ga<SUB>0.51</SUB>P의 띠간격 에너지의 변화를 Varshni 및 Bose-Einstein 표현에 의해 분석하였다.

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험
Ⅲ. 실험결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (21)

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