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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제6권 제2호
발행연도
2005.1
수록면
35 - 38 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

2006

Dielectric Properties of PZT(20/80)/PZT(80/20) HeterolayeredThick Films Fabricated by Screen-printing Method
이성갑 ,  이영희 Transactions on Electrical and Electronic Materials 2006.01 학술저널

2005

PZT(20/80)/PZT(80/20) 이종층 후막의 유전특성
이성갑 ,  이영희 ,  배선기 대한전기학회 학술대회 논문집 2005.07 학술대회자료
PZT 이종층 후막의 구조적, 전기적 특성
이성갑 ,  임성수 ,  이영희 외 2명 대한전기학회 학술대회 논문집 2005.07 학술대회자료
Structural Properties of PZT(80/20) Thick Films Fabricated by Screen Printing Method
이성갑 ,  이영희 Transactions on Electrical and Electronic Materials 2005.01 학술저널

초록· 키워드

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Pb(Zr0.8Ti0.2)O3 powders, prepared by the sol-gel method, were mixed with an organic vehicle and the PZT thick films were fabricated by the screen-printing techniques on Pt/Al2O3 substrates. The structural properties were examined as a function of sintering temperature. The particle size distribution of the PZT powder derived from the sol-gel process is uniform with the mean particle size of about 2.6 m. As a result of the DTA, the formation of the polycrystalline perovskite phase was observed at around 890 oC. In the X-ray diffraction analysis, all PZT thick films showed a perovskite polycrystalline structure without a pyrochlore phase. The perovskite crystallization temperature of PZT thick films was about 890 oC. The average thickness of the PZT thick films was approximately 80-90 m.
#PZT ceramics #Thick films #Screen printing #Structural properties

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