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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.1
- 수록면
- 550 - 553 (4page)
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Pb(Zr0.2Ti0.8)O3 powders, prepared by the sol-gel method, were mixed with an organic vehicle and the PZT thick films were fabricated by the screen-printing techniques on Pt/alumina substrates. The structural and dielectric properties were examined as a function of sintering temperature. The particle size distribution of the powder is bimodal with the mean particle size of about 1.2 μm. The average grain size of the PZT thick films sintered above 1000 ℃ was about 3.1 μm and the thickness of the specimens was approximately 41 μm. The relative dielectric constant and dielectric loss of the thick films sintered at 1050 ℃ were 337 and 1.24 %, respectively.
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/ 1993. / Analysis of bending displacement of lead zirconate titanate thin film synthesized by hydrothermal method 32 (9b) : 4095 ~
/ 2004. / AFM analysis of chemical-solution-derived epitaxial PZT films prepared by using oxidizing or non-oxidizing pyrolysis 44 (2) : 346 ~
/ 2004. / Characterization of ferroelec- tric thin films in microwave region J. of KIEEME 17 : 947 ~
/ 2004. / Ferroelectric properties of Tb-doped PZT thin films prepared by sol-gel process J. of KIEEME 17 : 947 ~
/ 2004. / AFM analysis of chemical-solution-derived epitaxial PZT films prepared by using oxidizing or non-oxidizing pyrolysis 44 (2) : 346 ~
/ 2004. / Characterization of ferroelec- tric thin films in microwave region J. of KIEEME 17 : 947 ~
/ 2004. / Ferroelectric properties of Tb-doped PZT thin films prepared by sol-gel process J. of KIEEME 17 : 947 ~
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