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Al-doped p-type ZnO thin films were fabricated by RF magnetron sputtering on n-Si (100) and homo-buffer layers in pure oxygen ambient. ZnO ceramic mixed with 2 wt% Al₂O₃ was selected as a sputtering target. XRD spectra show that the Al-doped ZnO thin films have ZnO crystal structure. Hall Effect experiments with Van der Pauw configuration show that p-type carrier concentrations are arranged from 1.66x10^16 to 4.04x10^18 cm-², mobilities from 0.194 to 198 cm²V-¹s-¹ and resistivities from 0.0963 to 18.4 Wcm. FESEM cross section images of different parts of a p-type ZnO:Al thin film annealed at 800 0C show a compact structure. Measurement for same sample shows that density is 5.40 cm-³ which is smaller than theoretically calculated value of 5.67 cm-³. Photoluminescence (PL) spectra at 10 K show a shoulder peak of p-type ZnO film at about 3.117 eV which is ascribed to electron transition from donor level to acceptor level (DAP).

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