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다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트

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The Fault Management Functions for the System Clock Supplier

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개선된 SoC에 관한 연구

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다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기

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The Impact of Delay Optimization on Delay Fault Testing Quality

Young-Ho Pa ,  k ,  Eun-Sei Pa 외 1명

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천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 셀 설계

김기태 ,  한주희 ,  황두찬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

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다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기

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전자공학회논문지-SD

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