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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Deokjin Joo (서울대학교) Minseok Kang (서울대학교) Taewhan Kim (서울대학교)
저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers Journal of Computing Science and Engineering Journal of Computing Science and Engineering Vol.6 No.4
발행연도
2012.12
수록면
257 - 266 (10page)

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This paper overviews clock design problems related to the circuit reliability in deep submicron design technology. The topics include the clock polarity assignment problem for reducing peak power/ground noise, clock mesh network design problem for tolerating clock delay variation, electromagnetic interference aware clock optimization problem, adjustable delay buffer allocation and assignment problem to support multiple voltage mode designs, and the state encoding problem for reducing peak current in sequential elements. The last topic belongs to finite state machine (FSM) design and is not directly related to the clock design, but it can be viewed that reducing noise at the sequential elements driven by clock signal is contained in the spectrum of reliable circuit design from the clock source down to sequential elements.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. CLOCK TREE SYNTHESIS OVERVIEW
Ⅲ. RELIABILITY AWARE CLOCK DESIGN TECHNIQUES
Ⅳ. CONCLUSION
ACKNOWLEDGMENTS
REFERENCES

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-569-000460154