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Bu-Yong Um (Samsung Electronics) Jong-Ryul Kim (Samsung) Sang-Hoon Kim (Sungkyunkwan University) Jae-Hoon Lee (Sungkyunkwan University) Jimin Cheon (Kumoh National Institute of Technology) Jaehyuk Choi (Sungkyunkwan University) Jung-Hoon Chun (Sungkyunkwan University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.17 No.1
발행연도
2017.2
수록면
110 - 119 (10page)

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This paper describes a CMOS image sensor (CIS) with dual correlated double sampling (CDS) and column-parallel analog-to-digital converter (ADC) and its measurement method using a fieldprogrammable gate array (FPGA) integrated module. The CIS is composed of a 320 x 240 pixel array with 3.2 μm x 3.2 μm pixels and column-parallel 10-bit single-slope ADCs. It is fabricated in a 0.11-μm CIS process, and consumes 49.2 mW from 1.5 V and 3.3 V power supplies while operating at 6.25 MHz. The measured dynamic range is 53.72 dB, and the total and column fixed pattern noise in a dark condition are 0.10% and 0.029%. The maximum integral nonlinearity and the differential nonlinearity of the ADC are +1.15 / -1.74 LSB and +0.63 / -0.56 LSB, respectively.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. DUAL-CDS CIS SYSTEM
Ⅲ. CIS EVALUATION METHOD AND MEASUREMENT RESULTS
Ⅳ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (13)

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