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학술저널
저자정보
Deok-Keun Oh (Sogang University) Myeoung-Woo Jin (Sogang University) Ju-Ho Kim (Sogang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.16 No.6
발행연도
2016.12
수록면
771 - 780 (10page)

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Detecting a set of longest paths is one of the crucial steps in static timing analysis and optimization. Recently, the process variation during manufacturing affects performance of the circuit design due to nanometer feature size. Measuring the performance of a circuit prior to its fabrication requires a considerable amount of computation time because it requires multi-corner and multi-mode analysis with process variations. An efficient algorithm of detecting the K-most critical paths in multi-corner multi-mode static timing analysis (MCMM STA) is proposed in this paper. The ISCAS’85 benchmark suite using a 32 nm technology is applied to verify the proposed method. The proposed K-most critical paths detection method reduces about 25% of computation time on average.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. BACKGROUND
Ⅲ. MODIFIED K-MOST CRITICAL PATHS ALGORITHM
Ⅳ. EXPERIMENT RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (17)

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