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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.3
- 발행연도
- 2015.6
- 수록면
- 374 - 380 (7page)
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As semiconductor devices are being scaled down, random variation becomes a critical issue, especially in the case of static random access memory (SRAM). Thus, there is an urgent need for statistical methodologies to analyze the impact of random variations on the SRAM. In this paper, we propose a novel sampling method based on the concept of a confidence ellipse. Results show that the proposed method estimates the SRAM margin metrics in highsigma regimes more efficiently than the standard Monte Carlo (MC) method.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. THEORETICAL BACKGROUND
Ⅲ. SAMPLING METHOD WITH CONFIDENCE ELLIPSE AND HYPERBOLA
Ⅳ. APPLICATION TO CACHE MEMORY : CASE STUDY
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES
참고문헌 (6)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - K. Agarwal / 2008 / The impact of random device variation on SRAM cell stability in sub-90- nm CMOS technologies / IEEE Trans. VLSI Syst 16 (1) : 86 ~ 97
[학술대회논문] - R. Kanj / 2006 / Mixture importance sampling and its application to the analysis of SRAM designs in the presence of rare failure events / Proc. DAC : 69 ~ 72
[학술지(정기간행물)] - G. S. Lee / 2015 / Worst case sampling method to estimate the impact of random variation on static random access memory / IEEE Trans. Electron Devices
[학술지(정기간행물)] - Z. Guo / 2009 / Large-scale SRAM variability characterization in 45 nm CMOS / IEEE J. Solid-State Circuits 44 (11) : 3174 ~ 3192
[단행본] - H. Thomas / 2006 / Statistics: methods and applications: a comprehensive reference for science, industry, and data mining / StatSoft, Inc
[학술대회논문] - R. Kanj / 2006 / Mixture importance sampling and its application to the analysis of SRAM designs in the presence of rare failure events / Proc. DAC : 69 ~ 72
[학술지(정기간행물)] - G. S. Lee / 2015 / Worst case sampling method to estimate the impact of random variation on static random access memory / IEEE Trans. Electron Devices
[학술지(정기간행물)] - Z. Guo / 2009 / Large-scale SRAM variability characterization in 45 nm CMOS / IEEE J. Solid-State Circuits 44 (11) : 3174 ~ 3192
[단행본] - H. Thomas / 2006 / Statistics: methods and applications: a comprehensive reference for science, industry, and data mining / StatSoft, Inc
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