소자열화로 인한 기억소자 주변회로의 성능저하 ( Hot Carrier Induced Performance Degradation of Peripheral Circuits in Memory Devices )

윤병오 ,  유종근 ,  장병건 외 1명

전자공학회논문지-D

1999 .07

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Dynamic Latch Considering Low Current Consumption during Latch mode

Takeshi Tokuyama ,  Aki ,  a Hyogo 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

IGBT Mesh-Topology Modeling And Its Application To Latch-Up Performance

H.Zhang ,  F.Duan

ICPE(ISPE)논문집

2001 .10

Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

VCM 액추에이터의 전자기력을 이용한 HDD 래치 설계

김경호 ,  오동호 ,  신부현 외 1명

한국소음진동공학회논문집

2009 .08

CAE를 적용한 2열 시트 래치 평가

주현승 ,  이경택 ,  고형규

한국자동차공학회 춘계학술대회

2011 .05

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

CMOS Latch-up 현상의 실험적 해석 ( Experimental Analysis of CMOS Latch-up Phenomena )

고요환 ,  김충기 ,  경종민

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

Latch-up 방지를 위한 고속방전회로 설계

정상훈 ,  이남호 ,  조성익

대한전기학회 학술대회 논문집

2012 .11

Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

HOT-CARRIER-RELIABILITY STUDY FOR TRANSLATING AC STRESS DEGRADATION TO DC STRESS DEGRADATION

Yoon Jong Huh ,  Hyeok Jae Lee ,  Dong Hoon Lee 외 2명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

Simulation Study : Performance Evaluation of a Shared Buffer Memory Switch with Output Buffers

Hyuk Soo Jin ,  Young Sup Do ,  Soong Bok Lee

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .01

Selective N+ 버퍼층을 갖는 latch up 억제를 위한 새로운 IGBT 구조

김두영 ,  이병훈 ,  최연익 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1993 .11

Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects )

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11