이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효응적인 메모리 검사 알고리듬

이종철 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단

양명훈 ,  이종철 ,  강용석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단 ( Neighborhood Pattern Sensitive Fault Diagnosis Using Built - In Self Test )

양명훈 ,  이종철 ,  강용석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬

서일석 ,  강용석 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .11

대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조

김주엽 ,  홍성제 ,  김종

한국정보과학회 학술발표논문집

2004 .10

내장된 메모리를 위한 메모리 테스트 알고리듬의 설계 및 구현

박강민 ,  최인여 ,  양선웅 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

반도체 RAM의 결함고장을 검출하는 알고리듬 ( Algorithm for Detecting Coupling Faults in Semiconductor RAM`s )

여정모 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

RAM의 커플링 고장 검출을 위한 알고리즘 ( Algorithms for the Detection of Coupling Faults in RAMs )

여정모 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬

박한원 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .03

A New Test Algorithm for Bit-Line Sensitive Faults in High-Density Memories

Kang ,  Dong-Chual ,  Cho 외 1명

전기전자학회논문지

2001 .07

RAM의 커플링 고장을 검출하는 March Test의 한계 및 알고리즘 ( The limit of march test and algorithms for the detection of coupling faults in RAMs )

여정모 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1991 .01

Advanced Test Algorithm for Row / Column Pattern Sensitive Fault in RAMs

Chang Ki Lee ,  Byoung Sil Chon

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

고집적 메모리를 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬

朴漢源 ,  姜成昊

전기학회논문지 D

2001 .04

고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단

이진하 ,  라경택 ,  이영석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for Testing Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Content Addressable Memories )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

An Efficient Built-In Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories

Dong -Chual Kang ,  Sung Min Pa ,  k 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2004 .12

독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )

윤도현 ,  강성호 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2001 .02

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬

김지혜 ,  김홍식 ,  김상욱 외 4명

전자공학회논문지-SD

2004 .05