기억소자속의 Soft Error 검출 및 수정회로 설계 ( On-Chip Ecc Circuit Design for Soft Error in Dram )

윤빈영 ,  황호정

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

기억소자의 Multiple Soft Errors 검출 및 수정을 위한 내장가능한 MSECC 회로설계 ( On-Chip MSECC circuit design for multiple soft errors of memory device ( DRAM ) )

이종렬 ,  윤빈영 ,  황호정

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

In-DRAM ECC 적용을 위한 ECC 알고리즘들의 비교

김형태 ,  현종길 ,  문병인

Proceedings of KIIT Conference

2017 .06

비동기적 소프트 에러율을 활용한 레지스터 파일의 신뢰성 향상 방안

고요한 ,  이경우

한국정보과학회 학술발표논문집

2011 .11

DRAM 소프트 에러율 시뮬레이터 ( Soft Error Rate Simulator for DRAM )

신형순

전자공학회논문지-D

1999 .02

고집적 DRAM 셀에 대한 소프트 에러율 ( Soft Error Rate for High Density DRAM Cell )

이경호 ,  신형순

전자공학회논문지-SD

2001 .02

Accelerated Soft Error Rate Study with Well Structures

Do-Woo Kim ,  Myeong-Kook Gong ,  Jin-Suk Wang

KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications

2003 .02

Protection of On-Chip Memory System against Neutron-Induced Soft Errors using Double Adjacent Error Correction Codes

Ho Yoon Jun ,  Oh Yun Seok ,  Yong Su 외 1명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2015 .06

ECC를 적용한 DRAM의 초기화 시간 최소화 방법

노종성 ,  김종태

대한전기학회 학술대회 논문집

2006 .10

저전력 DRAM을 위한 온-칩 온도 감지 회로

김영식 ,  이종석 ,  양지운 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1996 .11

소프트에러에 강인한 ESC 제어기 설계에 대한 연구

정구민 ,  이경수 ,  이경중 외 3명

한국자동차공학회 춘계학술대회

2013 .05

다양한 진화 알고리즘으로 설계된 ECC회로들의 전력소비 연구

이희성 ,  김은태

대한전자공학회 학술대회

2008 .06

On Soft Generalized Closed Sets in a Soft Topological Space with a Soft Weak Structure

Hanan S. Al-Saadi ,  Won Keun Min

INTERNATIONAL JOURNAL of FUZZY LOGIC and INTELLIGENT SYSTEMS

2017 .12

On Soft w-Structures Defined by Soft Sets

Won Keun Min

INTERNATIONAL JOURNAL of FUZZY LOGIC and INTELLIGENT SYSTEMS

2020 .06

반도체메모리 장치를 위한 부호기, 복호기 결합형 ECC 회로의 설계

윤상선 ,  서해준 ,  조태원

대한전자공학회 학술대회

2008 .11

저전압 DRAM 회로 설계 검토 및 제안 ( Reviews and Proposals of Low-Voltage DRAM Circuit Design )

김영희 ,  김광현 ,  박홍준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2001 .04

발이 잡아준 ERROR 'E04'

목동균

소프트웨어세계

1999 .01

A Low-Power ECC Check Bit Generator Implementation in DRAMs

Sang-Uhn Cha ,  Yun-Sang Lee ,  Hongil Yoon

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2006 .12

인터리빙된 메모리의 다중 비트 소프트 에러에 대한 신뢰도 해석

류상문

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2013 .12

In-DRAM ECC 구현을 위한 BCH 부호의 오류 위치 다항식 계산 알고리즘 비교

정성훈 ,  문병인

한국통신학회 학술대회논문집

2018 .06