기억소자의  Multiple Soft Errors 검출 및 수정을 위한 내장가능한 MSECC 회로설계 ( On-Chip MSECC circuit design for multiple soft errors of memory device ( DRAM ) )

이종렬; 윤빈영; 황호정

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 이종렬 윤빈영 황호정

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술대회 논문집 제12권 2호

발행연도: 1989.11

수록면: 82 - 85 (4page)

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