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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.6 No.4
발행연도
2006.12
수록면
252 - 256 (5page)

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A low-power ECC check bit generator is presented with competent DRAM implementation with minimal speed loss, area overhead and power consumption. The ECC used in the proposed scheme is a variant form of the minimum weight column code. The spatial and temporal correlations of input data are analyzed and the input paths of the check bit generator are ordered for the on-line adaptable power savings up to 24.4% in the benchmarked cases. The chip size overhead is estimated to be under 0.3% for a 80㎚ 1Gb DRAM implementation.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. PREVIOUS WORK
Ⅲ. PROPOSED SCHEME
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

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