자체검사가 가능한 데이터 경로의 할당 알고리즘 ( Allocation Algorithm of Self-testable Data Path )

김정훈 ,  서철 ,  이강현

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

Testable Design

홍성제

CAD기술특강

1991 .01

데이타 경로 합성을 위한 하드웨어 할당 알고리듬 ( A Hardware Allocation Algorithm for Data Path Synthesis )

김홍식 ,  경종민

전자공학회논문지

1990 .08

지속할당과 그룹할당을 동시에 지원하는 결합된 자원할당 방식

정영호 ,  박소희 ,  이현 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2010 .02

Testable DRAM Design

강성호

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

VLSI Testing and Testable Design

임인칠

CAD기술특강

1989 .01

다양한 할당 정책을 지원하는 실시간 동적 메모리 할당 알고리즘 ( A Real-time Dynamic Storage Allocation Algorithm Supporting Various Allocation Policies )

정성무 ,  유해영 ,  심재홍 외 3명

한국통신학회논문지

2000 .10

Built-In 방식을 이용한 순서논리 회로의 Testable Design ( Testable Design of Sequential circuit using Built-In Test Technique )

정준모 ,  한석붕 ,  이재민 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

저 전력 아키텍처를 위한 상위 레벨 데이터 패스 할당 알고리즘

인치호

전기전자학회논문지

2003 .12

부가회로가 간단한 PLA의 Testable Design ( An Easily Testable Design of PLA`s with Simple Additional Circuits )

김은성 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

다중고장 검출이 가능하고 부가회로가 적은 Testable PLA 의 설계 ( A Testable PLA`s Design for Multiple Faults with Low Overhead )

이재민 ,  김은성 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

ATM 망의 가상 경로 상에서 효과적인 대역할당 알고리즘 연구 ( A Study on Efficient Bandwidth Allocation Algorithm on Virtual Path in ATM Network )

심덕주 ,  천상훈 ,  곽경섭

한국통신학회논문지

1999 .11

3 할당 문제를 위한 근사 알고리즘

곽하녹 ,  김지환

한국정보과학회 학술발표논문집

2014 .06

검사 용이화를 위한 VHDL의 동작기술 합성에 관한 연구

박종태 ,  최현호 ,  허형팔

전자공학회논문지-IE

2002 .12

A Fully Testable PLA Design with Minimum Hardware

Kai Cheng Wei ,  Bin Da Liu

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

100 % 결함 검출 가능한 회로의 합성 ( Synthesis of 100 % Testable Circuits )

이귀상

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

사용자 수를 고려한 멀티미디어 데이터 할당 방법

김순용 ,  이명진 ,  박진섭

한국정보과학회 학술발표논문집

1995 .11

A Testable for Wideband Wireless Multimedia Access

Jan Fa ,  jh ,  Wolfgang G 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1997 .01

AN ALLOCATION ALGORITHM FOR DATA PATH SYNTHESIS

Ming Su ,  Hongxi Xue

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )

이종철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01