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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술대회 논문집 제7권 1호
발행연도
1984.1
수록면
255 - 259 (5page)

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1987

테스트가 용이한 순서 CMOS PLA의 설계 ( Design of Easily Testable CMOS Sequential PLAs )
이종철 ,  임재윤 ,  한석붕 외 2명 대한전자공학회 학술대회 1987.07 학술대회자료
테스트가 용이한 CMOS 순서 PLA의 설계
이종철 ,  임재윤 ,  한석붕 외 2명 대한전기학회 학술대회 논문집 1987.07 학술대회자료

1985

CMOS PLA 의 Stuck-Open 고장에 대한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS PLA )
이종철 ,  신용철 ,  조상복 외 1명 대한전자공학회 학술대회 1985.01 학술대회자료

1984

Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )
이종철 ,  임인칠 대한전자공학회 학술대회 1984.01 학술대회자료

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