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논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
Testable DRAM Design
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
VLSI Testing and Testable Design
CAD기술특강
1989 .01
Built-In 방식을 이용한 순서논리 회로의 Testable Design ( Testable Design of Sequential circuit using Built-In Test Technique )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
부가회로가 간단한 PLA의 Testable Design ( An Easily Testable Design of PLA`s with Simple Additional Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
A Fully Testable PLA Design with Minimum Hardware
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1994 .01
다중고장 검출이 가능하고 부가회로가 적은 Testable PLA 의 설계 ( A Testable PLA`s Design for Multiple Faults with Low Overhead )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
Testable Design for Domino CMOS Circuits
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1986 .01
A Testable for Wideband Wireless Multimedia Access
대한전자공학회 워크샵
1997 .01
MTA 코드를 이용한 Testable CAM의 설계 ( Design of Testable CAM Using MTA Code )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
MTA 코드를 적용한 Testable CAM 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design of Testable CAM using MTA Code )
전자공학회논문지-C
1998 .06
1. Linear Feedback Shift Register를 利用한 Complex Integrated Circuits의 Testable Design
대한전자공학회 학술대회
1981 .08
Built-In Test 方式을 利用한 LSI/VLSI Testable Design
대한전자공학회 학술대회
1983 .11
Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
1988 .07
Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구 ( A Study on the Testable Design of Domino CMOS NOR-NOR Array Logic )
대한전자공학회 학술대회
1988 .07
Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구 ( A Study on Testable Design and Development of Domino CMOS NOR-NOR Array Logic )
전자공학회논문지
1989 .06
고장검출이 용이한 Built-in Test 방식의 설계 ( Testable Design on the Built In Test Method )
전자공학회논문지
1987 .05
측정이 쉬운 순서 논리회로의 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design for the Easily Testable Sequential Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1983 .01
100 % 결함 검출 가능한 회로의 합성 ( Synthesis of 100 % Testable Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1992 .01
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