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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2007.11
- 수록면
- 319 - 320 (2page)
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This paper presents the improved de-embedding method to obtain accurate S-parameter measurements of RF transistors using a distributed equivalent circuit including a half-split coupling admittances without additional test patterns. It is observed that the increasing rate of de-embe ... 전체 초록 보기
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